天線近場測量系統(tǒng)
更新：2026-02-01 17:39:07 點擊：
數(shù)字陣列測試功能、近場RCS測試功能、超材料及器件測試功能、通信天線三維方向圖測試功能。
詳情
數(shù)字陣列測試功能、近場RCS測試功能、超材料及器件測試功能、通信天線三維方向圖測試功能。 平面近場天線測量系統(tǒng)是利用天線的近場區(qū)幅相分布和遠場區(qū)幅相分布成數(shù)學(xué)傅里葉變換關(guān)系的原理，通過高精度三維采樣模塊（含平面近場掃描架和高性能微波探頭）和射頻控制系統(tǒng)（含超寬帶微波模塊及系統(tǒng)控制與處理單元）實現(xiàn)在天線近場區(qū)的幅度相位采集，通過對采集的幅相和位置數(shù)據(jù)進行傅里葉變換運算，獲得被測天線的遠場區(qū)分布，從而實現(xiàn)對天線的輻射參數(shù)，如方向圖、增益、極化特性等的分析。
主要功能:
天線增益測試；規(guī)格：
天線方向圖：副瓣電平、波束寬度、差零深測試；
天線近場診斷功能測試；
多任務(wù)（多頻點、多通道、多波位等）測試功能；
擴展功能：數(shù)字陣列測試功能、近場RCS測試功能、超材料及器件測試功能、通信天線三維方向圖測試功能。
工作頻段：0.5～40GHz；
掃描架運動方式：立式平面近場掃描架，xyz三維直線運動+P軸極化旋轉(zhuǎn)；
掃描架系統(tǒng)最大尺寸：30000×1240×16000；
Z向行程：≥250；
P軸：同軸交連0°～360°，5個限位；
定位精度：XY向（RMS）：≤0.05mm，P軸：±0.05°；
分辨率：XY向：≤0.025mm；
平面度：機械（RMS）：≤0.1mm（未修正），機械（RMS）：≤0.05mm（光學(xué)修正），小型（4000×2000）以下（RMS）：≤0.025mm（光學(xué)修正）；
掃描速度：最大400mm/S；
探頭架承重：≥35kg；
幅度精度（RMS）：0.5dB；
相位精度（RMS）：2°；
天線增益精度：0.3dB；
副瓣電平精度：0.5dB@SLL=-35dB；
副瓣電平測試精度：1.5dB@SLL=-45dB；
同時多任務(wù)能力：≥300。
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